Agilent 4286A RF LCR表提供**、可靠的測(cè)量，以便提高電子元器件或電路設(shè)計(jì)的質(zhì)量和

性能。與反射測(cè)量技術(shù)不同，Agilent 4286A使用直接的電流－電壓測(cè)量技術(shù)，可在廣泛的

阻抗范圍內(nèi)提供更**的阻抗測(cè)量結(jié)果。而且，由于先進(jìn)的校準(zhǔn)技術(shù)（典型的Q精度：6%

@ 100 MHz，Q=100），還可以極大地改進(jìn)Q測(cè)量。因此，通過在射頻范圍內(nèi)測(cè)量設(shè)備的真

實(shí)阻抗值，您將能夠顯著降低設(shè)計(jì)的不確定度。

主要技術(shù)指標(biāo)
1 MHz至1 GHz，10 kHz步進(jìn)
1%基本精度
高速測(cè)量：15ms
帶有APC-3.5測(cè)試頭的1 m/3 m無誤差電纜 .

LCR測(cè)試儀HP 4284A : 20 Hz到1 MHz

LCR測(cè)試儀HP 4285A : 75KHz-30MHz

LCR測(cè)試儀HP 4286A : 1MHZ~1GHZ

LCR測(cè)試儀HP 4287A : 1MHZ~3GHZ